Vấn đề xác định hoạt độ của các mẫu phóng xạ có hoạt độ thấp một cách chính xác và nhanh chóng là một trong những hướng nghiên cứu đã và đang được phát triển. Để giải quyết vấn đề này, các hệ thiết bị đo đạc bức xạ ngày càng được cải tiến về khả năng phát hiện sự tồn tại và xác định hoạt độ của các đồng vị phóng xạ trong mẫu đo. Bên cạnh đó, chúng ta cũng cần phải cải thiện quy trình đo từ khâu đầu tiên là chuẩn bị mẫu đo đến khâu cuối cùng là xử lí phổ đo được. Với những mục đích đó, luận văn này được thực hiện tập trung vào cả hai khâu quan trọng đó. Trong việc xác định hoạt độ của các mẫu phóng xạ, phương pháp phổ biến nhất là phương pháp Window Analysis (WA) truyền thống. Trong phương pháp này, trước tiên diện tích các đỉnh gamma được xác định bởi người dùng hoặc bằng các chương trình có sẵn như Genie-2000 của hãng Canberra. Sau đó, hoạt độ của mẫu sẽ được xác định dựa trên các diện tích đỉnh tính được kết hợp với các thông số như xác suất phát gamma, thời gian đo, hiệu suất ghi nhận của detector, Việc xác định hoạt độ bằng phương pháp này đòi hỏi sự công phu và tốn nhiều thời gian trong việc xử lý. Bên cạnh đó, các hiệu ứng trong quá trình đo đạc như sự trùng phùng thực, tự hấp thụ hay các sai số trong số liệu từ các thư viện hạt nhân sẽ dẫn đến sự tăng thêm hay giảm bớt diện tích đỉnh và gây sai lệch đáng kể cho kết quả đo bằng phương pháp WA. Để hạn chế điều này, thay vì xác định hoạt độ dựa trên các đỉnh gamma riêng rẽ, chúng ta sẽ sử dụng một phương pháp mới nhằm xác định hoạt độ dựa trên toàn phổ gamma ghi nhận, phương pháp này được gọi là phương pháp Full Spectrum Analysis (FSA).